鍍層測厚儀是對加工業(yè)和精細工業(yè)產(chǎn)品表層進(jìn)行準確測量使產(chǎn)品的質(zhì)量達到高品質(zhì)的重要設備手段，我國為了使我們的產(chǎn)品能夠有化的水準，于是對測厚儀都提出了非常明確高指標的要求，以此來(lái)規范的避免影響測厚儀測量的因素，下面小編來(lái)給大家介紹一下影響測厚儀測量的因素究竟有哪些。

　　

　　影響鍍層測厚儀測量的因素有哪些

　　

　　1、基體金屬的選擇

　　

　　基體金屬的選擇于試件的測試是息息相關(guān)的，首先專(zhuān)業(yè)的鍍層測厚儀分有磁性方法和渦流方法，兩種方法對于測厚儀的基體金屬標準片都有不一樣的磁性和電性要求，必須要對號入座的進(jìn)行測量匹配，并且基體金屬的厚度對于我們的測量也有一定的影響。

　　

　　2、測試時(shí)的環(huán)境和條件

　　

　　測厚儀一的測試本身是非常方便的，它的出現很大程度上提高了我們對于產(chǎn)品測量的效率，但是我們在測量的時(shí)候需要注意到測量的環(huán)境以及必要的測量條件，首先我們需要注意測量時(shí)周?chē)拇艌?chǎng)環(huán)境，磁場(chǎng)過(guò)高或不穩定都會(huì )對我們的測量數據產(chǎn)生影響，其次潮濕的環(huán)境也是不利于我們的測量，而基體金屬標準片與試件本身的一些條件也會(huì )影響到我們的測量數據，例如測厚儀基體金屬片表層的粗糙程度等等。

　　

　　3、邊界距離：當探頭與被測樣品邊界、孔眼、空腔、其他截面變化出的距離小于規定的邊界距離時(shí)，由于渦流載體截面不夠將產(chǎn)生測量誤差。所以，在靠近被測樣品邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。如果必須測量該點(diǎn)的覆層厚度時(shí)，需預先在相同條件的無(wú)覆層表面進(jìn)行校準。

　　

　　4、表面粗糙度：粗糙的表面會(huì )導致系統誤差，對于粗糙的表面應進(jìn)行多點(diǎn)多次測量，然后取平均值以獲得較客觀(guān)的數據?；w金屬和覆蓋層的粗糙度越大，對測量結果的影響也越大，因此要使基體的平均粗糙度Ra應小于覆層厚度的5%。

　　

　　5、測量時(shí)的一些其它影響因素

　　

　　我們在進(jìn)行測量的時(shí)候要注意到試件表面要保持清潔不能有異物遮擋，并且即便是可信賴(lài)的鍍層測厚儀在測量時(shí)也都容易受到一些突然變化的影響所以我們要避免在試件的曲面和邊緣進(jìn)行測量。

　　

　　我們選擇到了一個(gè)高品質(zhì)的度量測厚儀并不意味著(zhù)我們的測量數據就會(huì )一定的準確，因為在測量過(guò)程中總會(huì )有一些細微的影響因素需要我們去注意，只有處理好這些影響因素才會(huì )使我們的鍍層測厚儀能夠發(fā)揮出其應有的作用。